電子生產車間培訓班

隨著電子產品的體積與重量日益縮小，技術含量不斷擴大，智能化程度成倍提高，對電子產品可靠性的要求已成為衡量其質量**重要的技術指標之一?？煽啃圆粌H在國防、航天、航空等尖端技術領域倍受關注，在工業(yè)、民用電子等領域也同樣得到重視。國際領 先企業(yè)非常重視產品的可靠性，并將產品的可靠性貫穿于整個產品的設計、研發(fā)、和生產全過程，以確保產品質量。與發(fā)達國家相比，目前我國電子產品的可靠性亟待提高。

1、授課內容包括了系統(tǒng)可靠性設計、電路可靠性設計規(guī)范、可靠性測試、元器件選型與失效分析的成功經驗和案例，授課為模板演示講解、案例討論和反串教學方式。注重應用背景，案例教學，看圖說話，避免空洞理論和復雜公式.

2、授課專家有多年軍工技術 電子制造行業(yè)技術雙重經驗，課程內容和授課方法著重于企業(yè)實踐技術和學員的消化吸收效果。

3、課程本著“從實踐中來，到實踐中去，用實踐所檢驗”的思想，面向設計生產實際，針對具體問題，充分結合同類公司現狀，提煉出經過驗證的軍工和民用產品的可靠性設計實用方法。

從事技術管理、設計開發(fā)、系統(tǒng)設計與測試、產品工程等崗位，包括總經理，研發(fā)總監(jiān)，總工程師，技術總監(jiān)，產品經理，研發(fā)經理，質量經理，產品開發(fā)工程師，質量工程師等。

第 一部分：可靠性設計

1、分析方法

1.1、工程計算和容差分析方法

1.2、環(huán)境應力分析

1.3、人機交互分析

1.4、關聯設備互動分析

1.5、過渡過程應力

1.6、負載波動分析

1.7、單一故障分析

1.8、可靠性預計分析

1.9、判據標準

2、分析要點

2.1、防護器件（保險絲、TV、壓敏電阻、氣體放電管、NTC電阻和PTC電阻）

參數計算

器件選型

電路結構形式分析

故障機理和失效分析判定方法

2.2、放大電路（運放電路、放大器IC）

阻抗匹配計算

精度分配計算

電路形式選型分析

器件參數選型和容差分析計算

放大電路常見問題點和應對措施

2.3、接口電路（光耦隔離電路、CAN總線、485總線、模擬信號傳輸接口電路、濾波）

應力分析

器件等效電路特性分析

電路結構形式分析

器件參數選型計算

2.4、復位電路

復位工作時序分析

復位電路特性要求

復位電路結構形式

復位電路參數選型計算

復位電路常見問題點和解決措施

2.5、MCU（振蕩電路、存儲介質、軟件設計、MCU選型）

器件失效機理

防護設計規(guī)范

2.6、數字信號處理電路（阻抗匹配、信號調理）

阻抗匹配計算

信號調理電路分析（走線方式、防護器件、及濾波器件對信號質量的影響）

2.7、驅動電路（開關電路、阻性負載/感性負載/容性負載的影響）

開關類器件的控制特性（繼電器、MOSFET、IGBT）

負載類型對控制特性的要求

開關器件的失效機理對控制方法的要求

2.8、顯示和鍵盤

顯示處理方式

顯示抗擾方法

鍵盤容錯性機制和抗擾設計

2.9、線纜接插件

線纜與接插件參數分析

線纜接插件結構特性

線纜接插件失效機理

選型計算

2.10、接地處理

接地器件的特性

接地常見問題和故障機理

安全接地、外殼地、浮地屏蔽地、數字地、模擬地、功率地、高頻接地、防雷接地的綜合處理方法

2.11、PCB布局布線

PCB板選材

PCB工藝

PCB 布局

DFT設計

板卡熱設計

2.12、結構和電氣結合的可靠性問題

結構電磁兼容（噴涂工藝、連接方法、開孔和縫隙）

腐蝕防護

電路板處理

結構件表面處理工藝

開孔接縫防護處理

安規(guī)

布線

絕緣設計

漏電流的影響因素

結構熱設計

散熱形式的選擇

散熱器件的選型計算

第二部分：測試

1、測試基礎

1.1、研發(fā)樣機測試與中試樣機測試的區(qū)別

1.2、原理驗證和一致性驗證的判據區(qū)別

1.3、測試的工具方法類型（模擬測試、仿真、工程計算、規(guī)范審查）

1.4、基于單一故障的接口故障分析及測試模擬方法

2、標準符合性測試

2.1、通用標準測試項目

2.2、安規(guī)（通用安規(guī)要求、安規(guī)測試判據、氣、液、電混合布局安規(guī)測試用例）

2.3、電磁兼容

2.4、產品內部不同類型模塊之間的相互影響檢查與測試

3、用戶現場模擬測試

3.1、設計調查表

3.2、用戶現場環(huán)境條件（環(huán)境對產品零部件的失效影響及模擬測試方法）

3.3、人機接口條件（操作者認知與習慣的潛在隱患防護）

3.4、關聯設備的相互影響（能量與信號輸入輸出的相互潛在影響及模擬測試方法）

4、基于失效機理的應力測試

4.1、常用器件、部件零件的失效機理和失效誘發(fā)應力

4.2、針對失效機理的模擬測試用例設計

5、應力變化率測試

5.1、環(huán)境應力變化率的影響

5.2、負載應力變化率的影響

5.3、能量及信號輸入變化率的影響

5.4、過渡過程應力對設備故障的影響

6、組合應力測試

6.1、現場多應力組合示例

7、軟件測試

7.1、路徑覆蓋的測試用例設計方法

7.2、數據覆蓋的測試用例設計方法

7.3、黑盒測試與白盒測試的測試用例設計方法

8、信號波形分析

8.1、常見的幾種異常波形（過沖、回勾、平臺、震蕩、塌陷、尖峰）

8.2、故障作用機理及改善措施

9、一致性測試與數據統(tǒng)計分析

9.1、正態(tài)分布與設計制造隱患的關系

9.2、如何**正態(tài)分布曲線控制器件質量

9.3、如何**測試數據的正態(tài)分布評價供應商的加工水平

10、器件失效特征規(guī)律和故障原因分析方法

10.1、電流應力與電壓應力的故障特征區(qū)別

10.2、突發(fā)浪涌應力與持續(xù)過電應力的故障特征區(qū)別

10.3、IV曲線測試分析器件故障

武曄卿
電子工程碩士。曾任航天二院總體設計所主任設計師、高級項目經理，機電制造企業(yè)研發(fā)總監(jiān)、事業(yè)部總監(jiān)，北京市級優(yōu)秀青年工程師，科協(xié)委員。
有電子產品、軍工、通信等專業(yè)方向的設計、測評和技術管理經歷，對產品系統(tǒng)設計、可靠性設計、技術管理有較深入研究，曾在學術會議及多家技術刊物發(fā)表專業(yè)文章。曾為比亞迪、中電30所、29所、松下電工、北京華峰測控、北京航天長峰、普析通用儀器、航天二院、航天五院、深圳普博、伯特利閥門集團、北控高科、南車四方股份等企業(yè)提供專業(yè)技術和技術管理輔導、培訓和咨詢。曾作為核心團隊成員經歷一個企業(yè)由零到幾個億、研發(fā)團隊由幾個人到近二百人的發(fā)展過程，深諳企業(yè)發(fā)展過程的產品可靠性問題和解決方法。
主講課程：《電路系統(tǒng)可靠性設計》、《嵌入式軟件可靠性設計》、《電子系統(tǒng)測試》、《電子電器產品電磁兼容分析設計》等。